919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀測試原理

測量粒度分布原理—動態(tài)光散射(DLS)法原理基于顆粒的布朗運(yùn)動，當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于布朗運(yùn)動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運(yùn)動速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動速度高，通過相關(guān)運(yùn)算得到相關(guān)函數(shù)，獲得顆粒粒徑信息。

測量Zeta電位原理——電泳光散射（ELS）法原理帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動，與液體之間形成滑動面，滑動面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。

919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

◆ 納米顆粒的合成和功能研究◆ 藥物輸送系統(tǒng)優(yōu)化◆ 制造過程中的質(zhì)量控制◆ 電泳物理學(xué)的基礎(chǔ)研究◆ 化妝品和工業(yè)乳液穩(wěn)定性研究◆ 納米顆粒制備和合成工藝優(yōu)化◆ 先進(jìn)的膠體穩(wěn)定性分析和優(yōu)化◆ 聚合物的表征